A.質(zhì)子、電子、中子
B.質(zhì)子、電子、γ射線
C.光子、電子、中子
D.原子、質(zhì)子、電子
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你可能感興趣的試題
A.面積大于聲束截面的當(dāng)量一定大
B.面積小于聲束截面的當(dāng)量反而大
C.當(dāng)量忽大忽小
D.以上都可能
A.回波幅度與底面反射波高度相差不大
B.底面反射完全消失
C.缺陷反射波高于底面回波
D.底波與缺陷波同時(shí)存在
A.F/B相同，缺陷當(dāng)量相同
B.該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸
C.適于對尺寸較小的缺陷定量
D.適于對密集性缺陷的定量
A.能
B.不能
C.有時(shí)能
D.觀察不到表面缺陷波
A.橫波
B.表面波
C.縱波
D.板波
最新試題
滲透檢測時(shí)，滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi)，將受檢部位置于合適的光源（發(fā)光強(qiáng)度足夠）下檢查時(shí)，下列說法正確的有（）。
工藝評定試件焊后應(yīng)進(jìn)行（）。
顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵?，在整張底片范圍出現(xiàn)，其產(chǎn)生的原因是（）。
關(guān)于相似相溶經(jīng)驗(yàn)法則的說法正確的有（）。
非熒光磁粉檢測時(shí)，可見光照度不小于1000lx，并應(yīng)避免（）。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用（）填補(bǔ)工件的較薄部分，使透照厚度差減小的方法。
關(guān)于波束未擴(kuò)散區(qū)，說法正確的是（）。
鑄件熒光滲透檢測時(shí)，（）。
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測時(shí)，缺陷定位說法正確的有（）。
阻止?jié)B透液滲入及滲出表面開口缺陷的固體污染物有（）。