A、J1
B、J2
C、J3
D、以上都不是
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、60—150
B、50—175
C、40—200
D、以上都不是
A、探傷人員根據(jù)制造廠現(xiàn)有探傷人員和設(shè)備技術(shù)水平
B、設(shè)計(jì)人員
C、檢查人員
D、以上都可以
A、仍按20%探傷,但探傷方法選用射線照相,Ⅲ級(jí)合格
B、進(jìn)行100%的射線照相,母材厚度超過38mm時(shí)還應(yīng)進(jìn)行局部超聲探傷,Ⅲ級(jí)合格
C、進(jìn)行100%的射線照相,母材超過38mm時(shí)還應(yīng)進(jìn)行局部超聲探傷,Ⅱ級(jí)合格
D、以上均可
A、探傷人員
B、制造廠檢驗(yàn)部門根據(jù)實(shí)際情況
C、設(shè)計(jì)人員
D、以上均可
A、圓形缺陷是按規(guī)定評(píng)定區(qū)框線內(nèi)缺陷折算成點(diǎn)數(shù)來評(píng)定的。由于不同的評(píng)片人員使用評(píng)定區(qū)框線的誤差、框線放置的差異及測(cè)量誤差,將引起缺陷尺寸的差異,而缺陷尺寸的差異,必然引起折算點(diǎn)數(shù)的差異(如4mm折算成6點(diǎn),4.01mm折算成10點(diǎn)),就是對(duì)同一個(gè)評(píng)片人也會(huì)出現(xiàn)級(jí)別的差異,因此容器制造廠驗(yàn)收或RT人員實(shí)際考試也允許這種差異
B、雖然制造廠100%透照,由于缺陷處于底片的部位不同,特別是外透照的端部端部缺陷與中心一次全曝光的底片相比,前者缺陷拉長,后者缺陷較小,就是同一個(gè)評(píng)片人用同一套工具測(cè)量缺陷,也會(huì)出現(xiàn)不同的結(jié)論
C、AB均是強(qiáng)詞奪理,應(yīng)評(píng)為不合格,屬于產(chǎn)品質(zhì)量問題,退修
D、AB是對(duì)的,這屬于照相技術(shù)本身的問題,非屬產(chǎn)品質(zhì)量的問題
最新試題
金屬材料的基本力學(xué)行為是指金屬材料在不同載荷作用下產(chǎn)生一些現(xiàn)象,這種現(xiàn)象包括()。
壓電晶體產(chǎn)生的壓電效應(yīng)主要有()。
屬于γ射線探傷設(shè)備的操作故障有()。
超聲場(chǎng)中波源軸線上任一點(diǎn)聲壓的幅值與下列()等因素有關(guān)。
鋼材的熱處理的一般過程中會(huì)出現(xiàn)()。
標(biāo)準(zhǔn)試塊具有規(guī)定的(),這是標(biāo)準(zhǔn)試塊的基本要求。
影響定影的因素主要有()。
下列關(guān)于顯像劑粉末吸附缺陷中滲透劑的說法正確的有()。
板波的類型有()。
磁粉檢測(cè)用的黑光燈發(fā)出的光包含有(),而把不需要的光線用濾光片過濾掉。