A、評定區(qū)內(nèi)不包含條狀夾渣或未焊透,評定區(qū)附近缺陷較少,且認為只用該評定區(qū)大小劃分級別不適當。
B、評定區(qū)內(nèi)缺陷點數(shù)小于等于可擴大評定區(qū)的缺陷點數(shù)上的限值
C、經(jīng)供需雙方同意
D、以上都是
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A、射線源側(cè)
B、膠片側(cè)
C、兩側(cè)均可
D、以上都對
A、評定區(qū)框線的長邊要與焊縫平行
B、框線內(nèi)必須完整包含最嚴重區(qū)域內(nèi)的主要缺陷
C、框線外切的不計點數(shù),相隔的計算在內(nèi)
D、以上都是
A、透照距離不變,透照厚度均一,所得底片黑度,靈敏度也均一,成象質(zhì)量與優(yōu)于其它透照方式
B、失真角為a,對焊縫中橫向缺陷的檢查率最高
C、一次曝光就能完成整條環(huán)縫的透照,檢測效率高
D、以上都是
A、dz-1=1.25dz
B、dz-1=0.8dz
C、dz+1=1.25dz
D、以上都不對
A、射線愿一側(cè)的工件表面上被檢焊縫區(qū)的一端(被檢區(qū)長度范圍的1/4部位)
B、鋼絲應(yīng)橫跨焊縫并與焊縫方向垂直,細鋼絲置于外側(cè)
C、當射線源一側(cè)無法放置時,也可放在膠片一側(cè)的工件表面,但應(yīng)通過對比試驗,并加F以示區(qū)別
D、以上都是
最新試題
壓電晶體產(chǎn)生的壓電效應(yīng)主要有()。
板波的類型有()。
表面活性劑分子在水或水溶液表面的吸附近于飽和時,水或水溶液的極性表面在很大程度上就被表面活性劑分子覆蓋,這時水或水溶液的()。
產(chǎn)生干涉的兩列相干波,在振動時會產(chǎn)生不同的波程差,波程差與波長相關(guān)聯(lián),所以不同的波程差會出現(xiàn)()等現(xiàn)象。
標準試塊具有規(guī)定的(),這是標準試塊的基本要求。
下列關(guān)于顯像劑粉末吸附缺陷中滲透劑的說法正確的有()。
對底片進行評定時,首先對底片進行質(zhì)量檢查,不滿足要求的底片不予評定,質(zhì)量檢查項目有()。
常用的顯像方法包括()。
磁粉檢測用的黑光燈發(fā)出的光包含有(),而把不需要的光線用濾光片過濾掉。
當障礙物尺寸Df< < 波長λ時,會出現(xiàn)以下()等現(xiàn)象。