填空題介質(zhì)的散射衰減與()、()和()有關(guān)。因此探傷晶粒較粗大的工件時(shí),常常選用較低的()。
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最新試題
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
題型:單項(xiàng)選擇題
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
題型:單項(xiàng)選擇題
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
題型:單項(xiàng)選擇題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
題型:單項(xiàng)選擇題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
題型:單項(xiàng)選擇題
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
題型:單項(xiàng)選擇題
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長距離檢測(cè)。
題型:單項(xiàng)選擇題
單探頭法容易檢出()。
題型:單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
題型:單項(xiàng)選擇題
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型:單項(xiàng)選擇題