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A.輸入電壓相位相反
B.輸入電阻很高
C.輸出電阻很低
D.具有一定電流放大作用
E.具有一定功率放大作用
A.發(fā)射電壓幅度
B.發(fā)射脈沖頻率
C.脈沖持續(xù)時(shí)間
D.數(shù)字采樣誤差
E.脈沖上升時(shí)間
A.軌頭上角
B.軌顎部位
C.軌底上部區(qū)域
D.軌腰
E.軌端
A.缺陷的大小
B.缺陷性質(zhì)
C.缺陷的形狀
D.缺陷的表面狀態(tài)
E.缺陷的位置
A.預(yù)熱溫度不夠
B.冷熱分布不均
C.軌面不潔
D.焊縫間隙過(guò)大
E.焊縫間隙不一
最新試題
檢測(cè)曲面工件時(shí),探頭與工件接觸有兩種情況,一是平面與曲面接觸,另一種是將探頭斜楔磨成曲面,探頭與工件曲面接觸。
超聲波檢測(cè)中如果被檢工件衰減嚴(yán)重,定量會(huì)受到影響。
對(duì)于比正常縱波底面回波滯后的變形波稱為遲到回波。
由于超聲波對(duì)進(jìn)入面的表面粗糙度、入射超聲束的方向等有一定的要求,必要時(shí)應(yīng)通過(guò)增添專門的工序,采用經(jīng)批準(zhǔn)的加工方法準(zhǔn)備超聲波進(jìn)入面。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
橫波檢測(cè)平板對(duì)接焊縫根部未焊透等缺陷時(shí),不同K值探頭檢測(cè)同一根部缺陷,其回波高相差不大。
超聲波在圓柱內(nèi)反射,如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換,且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波,返回探頭接收,會(huì)形成等邊的三角形遲到回波。
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊,使之形成高溫耦合層。
動(dòng)態(tài)范圍的最小信號(hào)可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
非金屬夾雜等缺陷的聲阻抗與鋼的聲阻抗相差很小,聲波在缺陷上的透射和吸收明顯高于白點(diǎn)和氣孔等缺陷。