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選擇探頭K值時,應考慮缺陷的取向,應盡可能使聲束與缺陷垂直
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在探測厚度較大的工件時,選用較小K值的探頭是為了減少聲程過大而引起的衰減,便于發(fā)現(xiàn)遠場區(qū)的缺陷。
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在探測厚度較小的工件時,選用較大K值的探頭是為了增大一次波的聲程,避免近場區(qū)探傷。
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