問答題簡(jiǎn)述連續(xù)法和剩磁法磁粉探傷的操作程序。

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濕法用磁粉粒度一般比干法小。

題型:判斷題

相關(guān)顯示是由漏磁場(chǎng)吸附磁粉形成的磁痕顯示。

題型:判斷題

用連續(xù)法檢測(cè)時(shí),檢測(cè)靈敏度不僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān),還受被檢工件材質(zhì)的影響。

題型:判斷題

材料磁導(dǎo)率低(剩磁大)及直流磁化后,退磁磁場(chǎng)換向的次數(shù)(退磁頻率)應(yīng)較多,每次下降的磁場(chǎng)值應(yīng)較小,且每次停留的時(shí)間(周期)要略長(zhǎng)。

題型:判斷題

打亂材料磁疇排布的兩種方法是:加熱到居里點(diǎn)溫度以上熱處理退磁法和反磁場(chǎng)退磁法。

題型:判斷題

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:當(dāng)辯認(rèn)細(xì)小缺陷磁痕時(shí)應(yīng)用2~10倍放大鏡進(jìn)行觀察。

題型:判斷題

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:磁粉檢測(cè)的工件表面不得有油脂、鐵銹、氧化皮或其它粘附磁粉的物質(zhì)。

題型:判斷題

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:剩磁應(yīng)不大于0.3mT(240A/m)。

題型:判斷題

熒光磁粉檢測(cè)時(shí),磁痕的評(píng)定應(yīng)在暗室或暗處進(jìn)行,暗室或暗處可見光照度應(yīng)不小于20Lx。

題型:判斷題

磁粉檢測(cè),所有的磁痕尺寸、數(shù)量和產(chǎn)生部位均應(yīng)記錄并圖示。

題型:判斷題