最新試題

采用剩磁法時(shí),磁懸液應(yīng)在通電結(jié)束后再施加,一般通電時(shí)間為2~3s。

題型:判斷題

用連續(xù)法檢測(cè)時(shí),檢測(cè)靈敏度不僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān),還受被檢工件材質(zhì)的影響。

題型:判斷題

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:直流退磁法是將需退磁工件放入直流磁場(chǎng)中,逐漸減小電流至零。

題型:判斷題

在不退磁的情況下,周向磁化產(chǎn)生的剩磁比縱向磁化產(chǎn)生的剩磁有更大的危害性。

題型:判斷題

組合裝配件應(yīng)分解后再進(jìn)行磁粉檢測(cè)。

題型:判斷題

C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同,只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。

題型:判斷題

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:磁粉檢測(cè)的工件表面不得有油脂、鐵銹、氧化皮或其它粘附磁粉的物質(zhì)。

題型:判斷題

在工件內(nèi)部的剩磁,周向磁化要比縱向磁化大的多。

題型:判斷題

根據(jù)JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,磁粉檢測(cè)前的工件表面準(zhǔn)備包括打磨表面、安裝接觸墊、封堵盲孔和涂敷反差增強(qiáng)劑。

題型:判斷題

熒光磁粉檢測(cè)時(shí),磁痕的評(píng)定應(yīng)在暗室或暗處進(jìn)行,暗室或暗處可見(jiàn)光照度應(yīng)不小于20Lx。

題型:判斷題