A．熒光；
B．自然光；
C．黑光；
D．氖光
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A、需要的設(shè)備少
B、檢驗(yàn)速度快
C、成本低
D、容易被吸附
A．受磁鐵強(qiáng)烈吸引；
B．能被磁化；
C．以上都是；
D．以上都不是
A．磁化電壓波動時(shí)；
B．磁化電流存在時(shí)；
C．材料呈現(xiàn)出高矯頑力；
D．磁化電流變小時(shí)
A．能檢出表面夾有外來材料的表面不連續(xù)性；
B．對單個(gè)零件檢驗(yàn)快；
C．可檢出近表面不連續(xù)性；
D．以上都是。
A．高磁導(dǎo)率；
B．低磁導(dǎo)率；
C．高磁阻；
D．低頑磁性
最新試題
標(biāo)準(zhǔn)試塊主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測的系統(tǒng)靈敏度，確定被檢工件的磁化規(guī)范。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的水?dāng)嘣囼?yàn)，主要是用來檢驗(yàn)水磁懸液對被檢表面的潤濕性能，只有出現(xiàn)裸露的“水?dāng)唷北砻?，才可以開始磁粉檢測。
熒光磁粉檢測時(shí)，磁痕的評定應(yīng)在暗室或暗處進(jìn)行，暗室或暗處可見光照度應(yīng)不小于20Lx。
采用濕法時(shí)，應(yīng)確認(rèn)整個(gè)檢測面被磁懸液濕潤后，再施加磁懸液。
根據(jù)JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，磁粉檢測前的工件表面準(zhǔn)備包括打磨表面、安裝接觸墊、封堵盲孔和涂敷反差增強(qiáng)劑。
打亂材料磁疇排布的兩種方法是：加熱到居里點(diǎn)溫度以上熱處理退磁法和反磁場退磁法。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
磁粉檢測—橡膠鑄型法是采用連續(xù)法檢測。
濕法用磁粉粒度一般比干法小。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：當(dāng)辯認(rèn)細(xì)小缺陷磁痕時(shí)應(yīng)用2～10倍放大鏡進(jìn)行觀察。