A.磁導率低;
B.剩磁強;
C.矯頑力大;
D.以上都是
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A.電流形成的磁場與電流方向平行;
B.電流從一根導體上通過時,用右手定則確定磁場方向
C.通電導體周圍的磁場強度與電流大小無關;
D.通電導體周圍的磁場強度與電流大小無關
A.線圈內緣;
B.線圈外緣;
C.線圈中心;
D.線圈端頭
A.H=I/2πr;
B.H=2πr/I;
C.H=2π/Ir;
D.H=2r/πI
A.高斯;
B.亨利;
C.法拉;
D.安培
A.電流:符號-I,單位-安培;
B.磁導率:符號-μ,單位-亨利/米;
C.磁通密度:符號-B,單位-高斯,國際單位制單位-特斯拉;
D.磁場強度:符號-H,單位-奧斯特,國際單位制單位-安/米;
E.以上都對
最新試題
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定:檢測后加熱至600℃以上進行熱處理的工件,一般可不進行退磁。
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定:兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時,按一條磁痕處理,其長度為兩條磁痕之和加間距。
標準試塊主要用于檢驗磁粉檢測的系統(tǒng)靈敏度,確定被檢工件的磁化規(guī)范。
材料磁導率低(剩磁大)及直流磁化后,退磁磁場換向的次數(shù)(退磁頻率)應較多,每次下降的磁場值應較小,且每次停留的時間(周期)要略長。
剩磁法不能用于干法檢測。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同,只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
磁粉檢測—橡膠鑄型法是采用連續(xù)法檢測。
對于交流線圈,線圈中的工件將影響電流的調整。
根據(jù)JB/T4730.4-2005標準規(guī)定,磁粉檢測前的工件表面準備包括打磨表面、安裝接觸墊、封堵盲孔和涂敷反差增強劑。
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定的水斷試驗,主要是用來檢驗水磁懸液對被檢表面的潤濕性能,只有出現(xiàn)裸露的“水斷”表面,才可以開始磁粉檢測。