A、摩擦力
B、矯頑力
C、漏磁場
D、靜電場
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A、10條磁力線（1韋伯）
B、伴隨著一個(gè)磁場的磁力線條數(shù)
C、穿過與磁通平行的單位面積的磁力線條數(shù)
D、穿過與磁通垂直的單位面積的磁力線條數(shù)
A、濕法檢驗(yàn)時(shí)，在液體中懸浮磁粉的方法
B、連續(xù)法時(shí)使用的磁化力
C、表示去除材料中的剩余磁性需要的反向磁化力
D、不是用于磁粉探傷的術(shù)語
A．磁力線永不相交；
B．磁鐵磁極上磁力線密度最大；
C．磁力線沿阻力最小的路線通過；
D．以上都對
A、磁力線彼此不相交
B、磁極處磁力線最稠密
C、具有最短路徑，是封閉的環(huán)
D、以上三點(diǎn)都是
A、可分開
B、不可分開
C、以上都不是
最新試題
組合裝配件應(yīng)分解后再進(jìn)行磁粉檢測。
磁粉檢測，所有的磁痕尺寸、數(shù)量和產(chǎn)生部位均應(yīng)記錄并圖示。
相關(guān)顯示是由漏磁場吸附磁粉形成的磁痕顯示。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：直流退磁法是將需退磁工件放入直流磁場中，逐漸減小電流至零。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：當(dāng)辯認(rèn)細(xì)小缺陷磁痕時(shí)應(yīng)用2～10倍放大鏡進(jìn)行觀察。
根據(jù)JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，磁粉檢測前的工件表面準(zhǔn)備包括打磨表面、安裝接觸墊、封堵盲孔和涂敷反差增強(qiáng)劑。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：檢測后加熱至600℃以上進(jìn)行熱處理的工件，一般可不進(jìn)行退磁。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：采用軸向通電法和觸頭法磁化時(shí)，為了防止電弧燒傷工件表面，應(yīng)將工件和電極接觸部分清除干凈或在電極上安裝非導(dǎo)電物質(zhì)。
對于交流線圈，線圈中的工件將影響電流的調(diào)整。