對含有內穿過式線圈的薄壁管，影響其阻抗變化的因素有（）

對焊接接頭穩(wěn)定時間有規(guī)定的產品，工藝規(guī)程應作出規(guī)定，檢驗監(jiān)控確認，檢驗蓋章時穩(wěn)定時間不足者應在申請單注明穩(wěn)定時間節(jié)點，否則X光室視為穩(wěn)定時間符合要求。

超差缺陷是否排除，由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗蓋章認可后送X光檢測。

底片圖像質量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。

補焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗負責，對兩個補焊區(qū)交界部位補焊次數(shù)的界定，需要通過底片觀察提供幫助時，X光室應予以配合。

對于直徑Φ50mm導管環(huán)焊縫，采用的透照方式為（）。

X射線檢驗人員負責對需排除的超標缺陷實施定位、做好相應標注，確保定位準確。

產品焊接接頭最終質量經X射線檢驗合格后不得再實施影響接頭性能的加工（如校形、修刮、重熔等），否則應重新申請進行X射線檢測。

對于厚度變化較大的變截面工件透照，只要底片黑度符合GJB1187A的要求時，就可采用多膠片技術。

下面給出的射線檢測基本原理中，正確的是（）。