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單項(xiàng)選擇題

探測(cè)面光潔度分別△2和△1的兩個(gè)試塊中，具有直徑、取向、距離都相同的橫通孔，在以相同探傷靈敏度下將波束垂直射至孔面，則回波高度：（）

A、相同
B、△2的比△1的高
C、△1的比△2的高
D、上述都不是

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單項(xiàng)選擇題

在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)用探測(cè)面為平面的對(duì)比試塊中的Φ2mm平底孔校準(zhǔn)的探傷靈敏度，去探測(cè)一個(gè)探測(cè)面為圓柱面的試件，發(fā)現(xiàn)一個(gè)深度和回波高度均與上述試塊平底回波相同的缺陷，則該缺陷的當(dāng)量：（）

A、等于Φ2mm平底孔
B、比Φ2mm平底孔大
C、比Φ2mm平底孔小
D、大于等于Φ2mm平底孔

單項(xiàng)選擇題

用三個(gè)平底孔試塊制作距離──幅度校正曲線時(shí)，有時(shí)得到最靠近探頭的孔的回波高度低于其它一個(gè)或兩個(gè)孔回波，這可能是由于：（）

A、試塊探測(cè)面表面狀態(tài)不一致
B、近場(chǎng)中干涉的影響
C、孔的幾何形狀不準(zhǔn)確
D、全都可能