問(wèn)答題畫出鋼軌焊縫探傷時(shí),軌底單探頭距離-波幅曲線制作圖。
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1.問(wèn)答題畫出探傷儀在CS-1-5試塊探傷靈敏度余量測(cè)試圖。
2.問(wèn)答題畫出焊縫軌底單探頭探傷靈敏度校準(zhǔn)圖
3.問(wèn)答題畫出一RC積分電路圖,并畫出其波形。
4.問(wèn)答題畫出在CSK-1A試塊上測(cè)定不同斜探頭K值圖。
5.問(wèn)答題畫出階梯試塊的外形圖及各部尺寸。
最新試題
使用雙探頭掃查時(shí),如盲目改變掃查方向,將會(huì)導(dǎo)致()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
探傷中遇鋼軌焊補(bǔ)時(shí),執(zhí)機(jī)人員必須“站停看波”在保持水量充足的情況下,探傷靈敏度應(yīng)提高()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
耦合劑應(yīng)選擇容易附著在試件的表面上,有足夠的浸潤(rùn)性以排除()之間由于表面粗糙造成的空氣間隙。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在探傷中選用較高的頻率,將會(huì)使得()因而發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力強(qiáng),可提高對(duì)缺陷的定位精度。
題型:多項(xiàng)選擇題
金相也可通過(guò)掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得,他們主要是用來(lái)觀察材料的位錯(cuò),放大倍數(shù)一般為()倍。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
垂直法探傷時(shí),對(duì)要求不太高的工件常采用局部法進(jìn)行掃查,局部法掃查一般分為()。
題型:多項(xiàng)選擇題
由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同,可能缺陷的()不一樣,因而探測(cè)面可能是試件的所有面,也可能是其中的幾個(gè)面,甚至只有一個(gè)可探測(cè)面。
題型:多項(xiàng)選擇題
焊縫探傷中斜探頭K值的選擇原則是()。
題型:多項(xiàng)選擇題
探傷中為了保證工件的整個(gè)被檢部位有足夠的聲束覆蓋,探頭掃查線的相鄰距離應(yīng)小于探頭的有效直徑,應(yīng)有探頭寬度()的重疊。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
探傷中探頭晶片尺寸增加,相應(yīng)的()對(duì)探傷有利。
題型:多項(xiàng)選擇題