探傷中為了保證工件的整個被檢部位有足夠的聲束覆蓋，探頭掃查線的相鄰距離應(yīng)小于探頭的有效直徑，應(yīng)有探頭寬度（）的重疊。

剝離層下核傷可采用軌顎法進(jìn)行校對，用軌顎校對法校對時，需在鋼軌表面校對的靈敏度的基礎(chǔ)上增加（）。

金相也可通過掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得，他們主要是用來觀察材料的位錯，放大倍數(shù)一般為（）倍。

垂直法探傷時，對要求不太高的工件常采用局部法進(jìn)行掃查，局部法掃查一般分為（）。

通用儀器對焊補(bǔ)層的下核傷是以核傷最高反射回波的80%再增益12dB作為校對靈敏度，以最大回波顯示的刻度來確定（）。

探傷工藝流程中探傷技術(shù)規(guī)范主要指的是（）

探頭移動過程中同時作（）轉(zhuǎn)動，稱為擺動掃查。

探傷工藝規(guī)程編制的內(nèi)容有很多，其中包括（）。

探傷中采用軌頭側(cè)面校對法，它主要適用于（）的校對。

探傷掃查過程中，探頭的方向應(yīng)根據(jù)（）進(jìn)行布局和掃查。