調節(jié)時基線時，應使（）同時對準相應的聲程位置。

當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現一系列的波，這種波是（）。

單探頭法容易檢出（）。

超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。

用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。

（）是影響缺陷定量的因素。

底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。

儀器水平線性影響（）。

（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。