對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。

若評(píng)片燈亮度增為原來(lái)的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉?lái)的（）

物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變（）

底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是（）

一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為（）

使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）

在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）

某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

在工作中超聲波檢測(cè)儀屏幕上可能會(huì)出現(xiàn)（）等信號(hào)波，需要仔細(xì)判別。

不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)（）