對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。

在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）

若評(píng)片燈亮度增為原來的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>

底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）

一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為（）

原子是元素的具體存在，是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。

使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）

最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為（）

底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）

以下試塊中，能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是（）