A.極差
B.平均差
C.方差
D.標(biāo)準(zhǔn)差
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D.離散系數(shù)
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A.中位數(shù)
B.算術(shù)均數(shù)
C.調(diào)和均數(shù)
D.幾何均數(shù)
E.眾數(shù)
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B.算術(shù)均數(shù)
C.調(diào)和均數(shù)
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最新試題
假設(shè)檢驗(yàn)的理論根據(jù)是()。
()為小樣本分布,應(yīng)用在當(dāng)對(duì)呈正態(tài)分布的總體的均值進(jìn)行估計(jì)。
假設(shè)檢驗(yàn)的決策依據(jù)是()。
指數(shù)按照計(jì)入指數(shù)的項(xiàng)目數(shù)目的差異分為()和();按照編制方法不同分為()和();按照反映內(nèi)容的差異分為()和();按照對(duì)比場(chǎng)合的差異分為()和()。
卡方檢驗(yàn)通常被用在()、()。
()適合于描述單位時(shí)間內(nèi)隨機(jī)事件發(fā)生的次數(shù),并能作為()的近似。
許多電子產(chǎn)品的壽命分布一般服從()。它在()研究中是最常用的一種分布形式。
總體服從正態(tài)分布,無(wú)論樣本容量如何,樣本均值的抽樣分布均服從(),總體方差已知,均可使用()建立總體均值的置信區(qū)間。
相關(guān)關(guān)系按照相關(guān)的方向不同分為()和();按照相關(guān)形式不同分為()和();按相關(guān)程度分為()、()和()。
時(shí)間序列平滑的目的是();平穩(wěn)時(shí)間序列使用()和()來(lái)預(yù)測(cè)時(shí)間序列未來(lái)值。