（）和（）是統(tǒng)計(jì)推斷是的兩個(gè)組成部分，它們都是利用樣本對(duì)總體進(jìn)行某種推斷。

卡方檢驗(yàn)通常被用在（）、（）。

總體服從正態(tài)分布，無(wú)論樣本容量如何，樣本均值的抽樣分布均服從（），總體方差已知，均可使用（）建立總體均值的置信區(qū)間。

假設(shè)檢驗(yàn)的決策依據(jù)是（）。

方差分析簡(jiǎn)稱（），用于解決（）的檢驗(yàn)問(wèn)題。 方差分析的對(duì)象稱為（）；因素的內(nèi)容稱為（）。

（）為小樣本分布，應(yīng)用在當(dāng)對(duì)呈正態(tài)分布的總體的均值進(jìn)行估計(jì)。

列聯(lián)表是（）變量進(jìn)行交叉分類的頻數(shù)分布表，它包含有（）頻數(shù)和（）頻數(shù)?？ǚ綑z驗(yàn)通常被用來(lái)檢驗(yàn)列聯(lián)表（）。

許多電子產(chǎn)品的壽命分布一般服從（）。它在（）研究中是最常用的一種分布形式。

假設(shè)檢驗(yàn)分為（）和（）。

（）應(yīng)用于一次實(shí)驗(yàn)有多個(gè)可能結(jié)果的情況。