單項(xiàng)選擇題塊間聯(lián)系和塊內(nèi)聯(lián)系是評(píng)價(jià)程序結(jié)構(gòu)質(zhì)量的重要標(biāo)準(zhǔn)。聯(lián)系的方式、共用信息的作用、共用信息的數(shù)量和界面的()等因素決定了塊間聯(lián)系的大小。

A.友好性
B.健壯
C.清晰性
D.安全性


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最新試題

面向?qū)ο箝_(kāi)發(fā)方法與面向數(shù)據(jù)流的結(jié)構(gòu)化開(kāi)發(fā)方法有什么不同?使用面向?qū)ο箝_(kāi)發(fā)方法的優(yōu)點(diǎn)在什么地方?

題型:?jiǎn)柎痤}

IBM公司的統(tǒng)計(jì)資料表明,使用靜態(tài)測(cè)試的方法最高可以查出在測(cè)試中查出的全部軟件錯(cuò)誤的()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

軟件測(cè)試計(jì)劃是一些文檔,它們描述了()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

如圖所示的程序有三條不同的路徑。分別表示為L(zhǎng)1(a→b)、L2(a→c→d)、L3(a→c→e),或簡(jiǎn)寫為ace、abd、abe及acd。根據(jù)判定覆蓋、條件覆蓋、判定–條件覆蓋、條件組合覆蓋和路徑覆蓋等五種覆蓋標(biāo)準(zhǔn),從供選擇的答案中分別找出滿足相應(yīng)覆蓋標(biāo)準(zhǔn)的最小測(cè)試用例組。(用~①⑩回答)供選擇的答案:

題型:?jiǎn)柎痤}

錯(cuò)誤的群集現(xiàn)象是指模塊錯(cuò)誤發(fā)現(xiàn)率與模塊的殘留錯(cuò)誤數(shù)成()關(guān)系。

題型:填空題

對(duì)小的程序進(jìn)行窮舉測(cè)試是可能的,用窮舉測(cè)試能否保證程序是百分之百正確呢?

題型:?jiǎn)柎痤}

什么是“類”?“類”與傳統(tǒng)的數(shù)據(jù)類型有什么關(guān)系?有什么區(qū)別?

題型:?jiǎn)柎痤}

等價(jià)類劃分完成后,就可得出(),它是確定測(cè)試用例的基礎(chǔ)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

由因果圖轉(zhuǎn)換出來(lái)的()是確定測(cè)試用例的基礎(chǔ)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

在基本路徑測(cè)試中,獨(dú)立路徑是指包括一組以前沒(méi)有處理過(guò)的()的一條路徑。從程序圖來(lái)看,一條獨(dú)立路徑是至少包含有一條()的邊的路徑。

題型:填空題