A.缺陷深度
B.缺陷至探頭前沿距離
C.缺陷聲程
D.以上都可以
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A.液體密度
B.液體粘度
C.液體表面張力
D.液體品質(zhì)
A.探傷部位的厚度
B.磁極位置,間距
C.外磁場干擾
D.磁化規(guī)范
A.(4~8)D
B.(8~16)D
C.(15~20)D
D.(20~30)D
A.(4~8)D
B.(8~16)D
C.(15~20)D
D.(20~30)D
A.外表面小,內(nèi)表面大
B.外表面大,內(nèi)表面小
C.內(nèi)外表面大,中向小
D.外內(nèi)表面小,中向大
最新試題
由于圓柱形工件有一定的曲率,直探頭與工件直接接觸時,接觸面為一條很寬的條形區(qū)域,從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會產(chǎn)生強(qiáng)烈的聲束擴(kuò)散。
當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時,若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力,則應(yīng)力作用會使工件彈性增加,導(dǎo)致聲速減慢。
對于比正??v波底面回波滯后的變形波稱為遲到回波。
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計算公式與圓柱形平面反射體的表達(dá)式進(jìn)行比較可知,在反射體直徑相同的情況下,圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
對于圓柱體而言,外圓徑向檢測實心圓柱體時,入射點(diǎn)處的回波聲壓實際上由于圓柱面耦合不及平面,因而其回波高于平底面,會使定量誤差增加。
爬波在自由表面的位移有垂直分量,但不是純粹的表面波。
儀器時基線調(diào)節(jié)比例時,若回波前沿沒有對準(zhǔn)相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準(zhǔn),會使缺陷定位誤差增加。
分辯率可使用通用探傷儀進(jìn)行測量,測試時儀器抑制置“零”或“開”位,必要時可加匹配線圈。
缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準(zhǔn)反射體聲壓之比。
在檢測晶粒粗大和大型工件時,應(yīng)測定材料的衰減系數(shù),計算時應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。