A.1500Hz
B.20KHz
C.2500Hz
D.0.5MHz
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A.平面波
B.球面波
C.柱面波
D.表面波
A.不變
B.越大
C.越小
D.不確定
A.探測離探傷面遠(yuǎn)的缺陷
B.探測離探傷面近的缺陷
C.探測與探傷面平行的缺陷
A.射線
B.磁粉
C.渦流
D.滲透
E.超聲
A.縱波
B.切變波
C.橫波
最新試題
當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時,而又沒有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償,會使定量誤差增加,精度下降。
發(fā)射電壓幅度也就是發(fā)射脈沖幅度,它的高低主要影響發(fā)射的超聲波能量。
超聲波在圓柱內(nèi)反射,如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換,且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波,返回探頭接收,會形成等邊的三角形遲到回波。
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊,使之形成高溫耦合層。
對于圓柱體而言,外圓徑向檢測實心圓柱體時,入射點處的回波聲壓理論上同平底面工件相同。
衍射時差法對缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測量精確,實時成像,快速分析。
由于圓柱形工件有一定的曲率,直探頭與工件直接接觸時,接觸面為一條很寬的條形區(qū)域,從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會產(chǎn)生強(qiáng)烈的聲束擴(kuò)散。
缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準(zhǔn)反射體聲壓之比。
檢測曲面工件時,探頭與工件接觸有兩種情況,一是平面與曲面接觸,另一種是將探頭斜楔磨成曲面,探頭與工件曲面接觸。
在檢測晶粒粗大和大型工件時,應(yīng)測定材料的衰減系數(shù),計算時應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。